1. Electronics reliability and measurement technology :
پدیدآورنده: edited by Joseph S. Heyman
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع: Integrated circuits-- Reliability-- Congresses,Integrated circuits-- Testing-- Congresses,Nondestructive testing-- Congresses
رده :
TK7874
.
E486
1988
2. Electronics reliability and measurement technology : nondestructive evaluation
پدیدآورنده: edited by Joseph S. Heyman
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits- Testing- Congresses,، Integrated circuits- Reliability- Congresses,، Non- destructive testing- Congresses
رده :
TK
7874
.
E486
1988
